X-TechLab

Rapport synthèse de la deuxième édition des sessions de formation X-TechLab – Novembre 2020

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Du 16 au 27 novembre, s'est tenue la deuxième édition des sessions de formation X-TechLab en Cristallographie et Techniques de diffraction X et en Ingénierie mathématique et imagerie X.

Une réussite dans un contexte particulier!

Malgré la pandémie, organisateurs, encadrants et participants ont tout donné pour rendre ces sessions possibles et efficaces : la majorité des participants sur place, les encadrants et certains participants en ligne ; Bien que ces sessions aient été essentiellement théoriques permettant l’initiation à l’utilisation de plusieurs logiciels d’analyse comme par exemple APEX 3, Olex2 en cristallographie ; en Ingénierie mathématique les expériences ont permis l’analyse de 100 échantillons de différentes familles de bois béninois.

Les structures de plusieurs molécules, synthétisées par des scientifiques, ont été résolues à l’occasion de cette session. Après vérification dans la Cambridge Structure Database (CSD), elles pourraient être une découverte!

La session a réuni trente (30) scientifiques africains venant de six pays : Bénin, Cameroun, Côte-d’Ivoire, Éthiopie, Ghana et du Nigéria. Mention particulière pour le nombre de participantes qui est passée de 3 sur l’ensemble de l’édition précédente 2019 à 9 pour cette seule session de l’année 2020.

Nous remercions les formateurs (20) qui, depuis les USA, l’Angleterre, l’Italie, la France, la Suisse, le Panama, le Botswana, la Jordanie et certains ici au Benin ont rendu possible cette session.

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