X-TechLab

Les axes de Formation

La formation X-TechLab comporte deux sessions annuelles. Chacune de ces deux sessions comporte deux axes de formation : « Cristallographie et techniques de diffraction  X » et « Tomographie et Ingénierie Mathématique ».

SESSION I : 18 au 29 Mai 2020
SESSION II :  16 au 27 Novembre 2020

X-TechLab Formations
Cristallographie et techniques de
diffraction X

 18.05.2020 – 29.05.2020

X-TechLab Formations
Tomographie et Ingénierie
Mathématique

18.05.2020 – 29.05.2020

Formations aux techniques de rayons X

X-TECHLAB WORKSHOT ANNOUNCEMENT

We are pleased to announce that the 1st training session of the year 2020, in “Crystallography & X-Ray Diffraction Techniques” and “Tomography & Mathematical Engineering”, will be held from 18 – 29 May 2020 at Agence de Développement de Sèmè City – Cotonou, Benin Republic.

The workshop will cover all aspects:

1. of crystal structure resolution by X-ray crystallography, including the fundamental concepts such as:

  • fundamentals of x-ray crystallography
  • crystal symmetry
  • crystal diffraction: theory and experiment
  • crystal growth techniques

 

2. of “tomography & mathematical engineering”

  • Genesis of an X-ray Tomography application
  • Image correlation applied to solids mechanics

 

Participants will have the opportunity to collect data from their own crystals using D8 QUEST BRUKER.

This workshop is most suitable for Master Degree and PhD students, lecturers and researchers.

Participants from all countries will be considered. However, qualified applicants from African universities will be preferred. Online applications are open until 13 March, 2020. A total of 20 participants will be selected by training area. The selection results will be announced no later than 18 March, 2020.

Please follow this link to apply: https://urlz.fr/bxAQ

 

TERMS OF PARTICIPATION

Applicants who wish to participate in this training will have to pay the registration, accommodation and catering fees which are as follows:

Registration fees:

– 200,000 CFA francs for non-Beninese applicants.

– 100,000 francs for Beninese applicants.

NB: the real cost of training is 1 million four hundred thousand (1,400,000) FCFA per student. Partner organizations and the Beninese state subsidized training up to 93%.

 

Accommodation:

For applicants not residing in Benin, the organizing committee suggests them accommodation at:

  • Hôtel Benin Horizon

Price ​​≥ 26.000 frs CFA

Directions : Cadjèhoun-kpota / Maps : https://urlz.fr/bEgB

Tel : (+229) 21 30 96 84/ 95 49 15 99

www.hotelbeninhorizon.com

 

  • Hôtel Méditérranéen

Price ​​≥ 31.500 frs CFA

Directions : 908 Route de Lomé, face église “Bon Pasteur” Cadjéhoun / Maps : https://urlz.fr/bEgU

Tel : (+229) 21 30 23 22/61 63 63 63

reservation@mhbenin.com

www.mhbenin.com

 

  • Hôtel Villa Les Orchidées

Price ​​≥ 49.000 frs CFA

Directions : Boulevard de la Marina / Maps : https://urlz.fr/bEig

Tel : (+229) 24 00 23 23/61 41 20 20

reservation@villalesorchidees.com

www.villalesorchidees.com

 

Catering : 

For each day of the training period, the organizing committee offers each participant two coffee breaks and lunch. Dinner and other meals are not taken into account by the organizing committee. They are entirely at the expense of the participants.

 

 

X-TechLab formera chaque année cent (100) techniciens, ingénieurs et chercheurs à deux techniques expérimentales de caractérisation : la diffraction et la microtomographie X.

DIFFRACTION
Cristallographie et techniques de diffraction X
Les domaines destinés aux études structurales appliquées à différentes problématiques d’intérêt dans des sciences du vivant, de l’agriculture, de l’environnement et de l’énergie.
MICROTOMOGRAPHIE X
Tomographie et ingénierie mathématique
Développement et mise en œuvre d’une méthodologie destinée à l’élaboration de matériaux innovants, écologiques et adaptés à l’environnement local. Cette méthodologie met en oeuvre une chaîne comprenant l’acquisition d’images 2D permettant la reconstruction en 3D de l’intérieur des échantillons, l’extraction de données morphologiques à l’aide de méthodes mathématiques et de calculs numériques.
CANDIDATURE
Conditions d’éligibilité au programme
Un appel à candidature international sera lancé en amont de chaque session de formation. Les candidatures se feront en ligne directement sur notre plateforme.
SELECTION
Les critères de sélection sont les suivants :
- Qualité du dossier
- Degré de motivation
- Pertinence du projet de recherche

L’ingénierie mathématique au service du developpement durable

La microtomographie couvre un très large spectre d’applications dans le domaine de la science des matériaux. Dans le cadre de la formation X-TechLab, nous nous intéresserons en particulier au potentiel unique de cette technique pour le développement d’un habitat durable, écologique et confortable. Le modèle actuel en Afrique s’appuie en effet presque exclusivement sur l’usage systématique du béton, étant loin d’offrir des performances optimales.

La conception et l’optimisation d’une nouvelle génération de matériaux à partir d’ingrédients locaux pour un habitat confortable et respectueux de l’environnement nécessite la maîtrise et la mise en œuvre d’outils théoriques et expérimentaux spécifiques. En plus des essais thermomécaniques classiques, notre approche consiste à coupler des données provenant de moyens d’investigation non destructifs (imagerie X, spectroscopie) à l’utilisation d’algorithmes mathématiques afin d’extraire les caractéristiques des matériaux telles que la morphologie et la réponse de chacun de leurs ingrédients aux sollicitations thermomécaniques imposées par l’environnement.

L’ensemble de ces outils et méthodologies innovants constituera un des acquis majeurs de la formation des participants souhaitant s’investir dans les applications d’ingénierie des matériaux.

Experts Encadrants

Cristallographie et techniques de diffraction X

José Manuel MERINO ALVAREZ, Professeur, Université Autonome de Madrid, Espagne, josem.merino@uam.es

Eberhardt Josué FRIEDRICH KERNAHAN, PhD, Université Autonome de Madrid, Espagne, josue.friedrich@uam.es

Thomas BLANTON, PhD, Directeur Excécutif, International Centre for Diffraction Data, tblanton@icdd.com

Philip Oladijo, Professeur, Botswana International University of Science and Technology, Botswana, oladijop@biust.ac.bw

Michele ZEMA, PhD, Université de Pavia, Italie, IUCr Executive Outreach Officer, michele.zema@unipv.it

Suzanna WARD, Directrice de la Cambridge Structural Database, Cambridge Crystallographic Data Centre, ward@ccdc.cam.ac.uk

Thierry d’ALMEIDA, Directeur de Recherche, Commissariat à l’Energie Atomique et aux Energies Alternatives (CEA), France, Thierry.DALMEIDA@cea.fr

Etienne SAGBO, Maître de conférences, Université d’Abomey-Calavi, esagbo@yahoo.fr

Marielle AGBAHOUNGBATA, PhD, X-TechLab, Agence de Développement de Sèmè City, m.agbahoungbata@xtechlab.co

Tomographie et Ingénierie Mathématique

François Hild Directeur de Recherche, CNRS, France,
francois.hild@ens-paris-saclay.fr

Dominique JEULIN, Professeur Emérite, Mines-Paris Tech, France, dominique.jeulin@mines-paristech.fr

Alain FANGET, Ingénieur chercheur, Commissariat à l’Energie Atomique et aux Energies Alternatives (CEA), France, alain.fanget@wanadoo.fr

Thierry DUVAUT, Professeur, Université de Reims Champagne Ardenne, France, thierry.duvaut@univ-reims.fr

Thierry d’ALMEIDA, Directeur de Recherche, Commissariat à l’Energie Atomique et aux Energies Alternatives (CEA), France, Thierry.DALMEIDA@cea.fr