Notre programme de formation

La formation X-TechLab se compose de deux sessions annuelles. Chacune de ces deux sessions porte sur deux axes de formation : « Cristallographie et Techniques de Diffraction  X » et  « Tomographie et Ingénierie Mathématique ». 

Prochaine session de formation: 16 au 27 novembre 2020  –   Formation en anglais scientifique à partir du 19 octobre.

E & F Training

Après une première édition courronnée de succès, celle de cette année devait en mai 2020 confirmer l’impact positif des formations de la plateforme X-TechLab sur la communauté scientifique. La pandémie de la Covid-19 nous a obligé à reporter cette session mais a surtout rappelé l’urgence pour le contnent de développer des solutions et protocoles adaptés à ses réalités.

La session de formation de novembre revêt un caractère particulier; partout dans le monde les contacts physiques entre personnes et les déplacements sont limités au strict minimum, l’observance d’une distance sociale est obligatoire de même que le port systématique de masque en tout lieu et la désinfection régulière des mains.

Dans un continent particulièrement vulnérable et en tant que plateforme
panafricaine, notre défi est de pouvoir accomplir sa mission de formation tout en répondant aux nouvelles exigences sociétales et en favorisant la participation de tous les pays Africains.

Nous offrons une nouvelle formule de formation combinant la formation en ligne et la formation en mode présentiel avec une part importante dédiée aux travaux de recherche appliqués, ce projet permettra de former efficacement, en peu de temps à moindre coût une grande majorité de scientifiques issue de différents pays Africains. Ce projet tire davantage sa pertinence du fait que le paysage de la formation et de la recherche scientifique au Bénin et en Afrique en général révèle une défaillance notoire de plateaux techniques. En dehors du X-TechLab, aucun laboratoire au Bénin ne dispose de diffractomètres ni de microtomographe. Une réalité commune à la majorité des pays Africains.

Soulignons que la langue de formation étant l’anglais, il est mis gratuitement à la disposition des participants francophones une formation en anglais scientifique qui se déroulera en ligne du 19 octobre au 13 novembre 2020.

La session de formation du X-TechLab se déroulera du 16 au 27 novembre 2020.

Formation en anglais scientifique

                    Le programme d’apprentissage de l’anglais technique constitue le module I du programme de formation du X-TechLab sur les techniques de rayons X. L’anglais étant la langue d’enseignement des formations X-TechLab, il est apparu nécessaire de mettre en place un programme de mise à niveau en anglais pour la cible francophone qui participe à la formation. L’objectif est d’aider les candidats francophones à mieux comprendre les leçons données en anglais tout en améliorant leurs compétences linguistiques. 

  Objectifs d’apprentissage

A la fin de la formation, l’apprenant doit être capable de :

– prononcer correctement, en anglais, les termes utilisés en cristallographie, dans les techniques de diffraction des rayons X, ou en tomographie à rayons X et en ingénierie mathématique ;

– être capable d’écrire correctement, en anglais, les terminologies spécifiques aux techniques des rayons X ;

– être capable de comprendre sans difficulté les cours donnés lors des sessions de formation du X-TechLab.

     Conditions de participation

                 Cette première édition de formation en anglais est entièrement gratuite. Toutes les personnes qui ont manifesté un intérêt pour les activités du X-TechLab en s’inscrivant à l’un des programmes de formation « Crystallography and X-ray diffraction techniques » et « Mathematical engineering and X-imaging » sont éligibles. Le cours d’anglais aura lieu tous les jours du 19 octobre au 13 novembre 2020. Après l’inscription, le candidat recevra, dans les jours qui suivent, un courriel de X-TechLab qui le dirigera vers la classe du jour via la plateforme X-TechLab et le LMS Edmodo.

Nous formulons ici un remerciement appuyé au Professeur Gervais CHAPUIS dont le disctionnaire « Crystallography Online Dictionnary » a été abondamment utilisé dans le cadre de la réalisation des cours d’Anglais scientifique.

AXES DE FORMATION

Cristallographie et Techniques de Diffraction X

Les domaines destinés aux études structurales appliquées à différentes problématiques d’intérêt dans des sciences du vivant, de l’agriculture, de l’environnement et de l’énergie.

Experts encadrants

  • José Manuel MERINO ALVAREZ, Professeur, Université Autonome de Madrid, Espagne, josem.merino@uam.es
  • Eberhardt Josué FRIEDRICH KERNAHAN, PhD, Université Autonome de Madrid, Espagne, josue.friedrich@uam.es
  • Thomas BLANTON, PhD, Directeur Excécutif, International Centre for Diffraction Data, tblanton@icdd.com
  • Philip Oladijo, Professeur, Botswana International University of Science and Technology, Botswana, oladijop@biust.ac.bw
  • Michele ZEMA, PhD, Université de Pavia, Italie, IUCr Executive Outreach Officer, michele.zema@unipv.it
  • Suzanna WARD, Directrice de la Cambridge Structural Database, Cambridge Crystallographic Data Centre, ward@ccdc.cam.ac.uk
  • Thierry d’ALMEIDA, Directeur de Recherche, Commissariat à l’Energie Atomique et aux Energies Alternatives (CEA), France, Thierry.DALMEIDA@cea.fr
  • Etienne SAGBO, Maître de conférences, Université d’Abomey-Calavi, esagbo@yahoo.fr
  • Marielle AGBAHOUNGBATA, PhD, X-TechLab, Agence de Développement de Sèmè City, m.agbahoungbata@xtechlab.co

Tomographie et Ingénierie Mathématique

Développement et mise en œuvre d’une méthodologie destinée à l’élaboration de matériaux innovants, écologiques et adaptés à l’environnement local. Cette méthodologie met en oeuvre une chaîne comprenant l’acquisition d’images 2D permettant la reconstruction en 3D de l’intérieur des échantillons, l’extraction de données morphologiques à l’aide de méthodes mathématiques et de calculs numériques.

Experts encadrants