X-TechLab
ENSEIGNEMENT SUPÉRIEUR

Les axes de Formation

La formation X-TechLab comporte deux sessions annuelles. Chacune de ces deux sessions comporte deux axes de formation : « Cristallographie et techniques de diffraction  X » et « Tomographie et Ingénierie Mathématique ».

SESSION I : 13 au 24 Mai 2019
SESSION II : 18 au 30 Novembre 2019

X-TechLab Formations
Cristallographie et techniques de
diffraction X monocristal et poudre

 13.05.2019 – 24.05.2019

Cristallographie et techniques de diffraction X

  • Réseaux cristallins: définitions et calculs
  • Utilisation des groupes d’espaces pour la détermination de structure
  • Séries et  transformée de Fourier pour la détermination de structure
  • Calcul cristallographique
  • Tables internationales de cristallographie
  • Diffusion et diffraction  des rayons X  (Facteurs de  structure, densité électronique  et effet de la température, vibration…)
  • Etapes de résolution des structures cristallines sur monocristaux : du choix du cristal au fichier CIF
  • Introduction à la diffraction de poudres
  • Introduction à l’utilisation des diffractomètres
  • Travaux Dirigés et Travaux pratiques (Choix d’un cristal, preparation des échantillons, collection des données, mesures des intensités diffractées)
  • Méthodes de résolution de structures cristallines et affinement
  • Mesures et interprétation  de données sur  poudres (I) et monocristal (II)
  • Grands Instruments : Synchrotron, XFEL et neutrons
X-TechLab Formations
Tomographie et ingénierie
mathématique

 13.05.2019 – 24.05.2019

Tomographie et Ingénierie Mathematique

  • Principes d’absorprtion et d’imagerie X en contraste de phase
  • Techniques de reconstitution d’images 3D
  • Présentation et formulation d’un problème industriel de morphologie : positionnements et objectifs
  • Extraction de morphologie de milieux granulaires
  • Calculs numériques des propriétés thermomécaniques
  • Essais micro tomographiques, mécaniques et thermiques in situ
  • Corrélation d’images appliquée à la mécanique des solides
  • Essais mécaniques et mesures
  • Cinématique de milieux déformables
  • Lois de comportement mécanique:  matériaux thermoélastiques et élastoplastiques
  • Mesure de champs en mécanique des solides
  • Un formulaire à remplir en ligne
  • Une lettre de motivation du postulant
  • Un curriculum vitae
  • Un résumé du projet de recherche du postulant (d’une page A4 au maximum, format pdf,  police Times New Roman, taille 12, interligne simple, marge 2,5cm).
  • Les candidats désireux d’obtenir une bourse pour suivre la formation sont priés d’envoyer en plus des pièces précédemment citées un budget de leur participation et en préciser leur contribution (il est vivement recommandé de prendre connaissance des modalités de participation afin de préparer le budget).

Les postulants qui désirent participer à cette formation devront s’acquitter des frais d’inscription, hébergement et de restauration qui se présentent comme suit :

Frais d’inscription pour les deux sessions (mai et novembre 2019) :

  • 200 000 francs CFA pour les postulants non béninois.
  • 100 000 francs pour les postulants béninois.

NB : le coût réel de formation global s’élève à 1 million quatre cent mille (1 400 000) FCFA par étudiant. Les organismes partenaires et  l’Etat béninois ont subventionné la formation à hauteur de 93%.

Hébergement

Pour les postulants ne résidant pas au Bénin, le comité d’organisation leur propose de se faire héberger à l’institut des artisans de justice et de paix-le Chant d’oiseau non loin du site de formation consultable sur le site web www.chantdoiseau.net / www.iajp.net

Type de chambre Chambre (petit déjeuner inclus) par nuitée
Ventilées Climatisée
Simple 10 000 F CFA 15 000 F CFA
Double 15 000 F CFA 20 000 F CFA

Restauration

Pour chaque jour de la période de la formation, le comité d’organisation offre à chaque participant deux pause-café et le déjeuner. Le diner et  autres repas ne sont pas pris en compte par  le comité d’organisation. Ils sont entièrement à la charge des participants.

Le chant d’oiseau (lieu d’hébergement) offre la possibilité aux participants de prendre les repas (déjeuner ou diner) sur place : les coûts des repas se présentent comme suit :

Déjeuner ou diner Simple 3 800 FCFA
Complet  (Entrée, résistance, dessert) 5 500 FCFA
EDUCATION

Formation aux techniques de rayons X

X-TechLab formera chaque année cent (100) techniciens, ingénieurs et chercheurs à deux techniques expérimentales de caractérisation : la diffraction et la microtomographie X.

DIFFRACTION
Cristallographie et techniques de diffraction X monocristal et poudre
Les domaines destinés aux études structurales appliquées à différentes problématiques d’intérêt dans des sciences du vivant, de l’agriculture, de l’environnement et de l’énergie.
MICROTOMOGRAPHIE X
Tomographie et ingénierie mathématique
Développement et mise en œuvre d’une méthodologie destinée à l’élaboration de matériaux innovants, écologiques et adaptés à l’environnement local. Cette méthodologie met en oeuvre une chaîne comprenant l’acquisition d’images 2D permettant la reconstruction en 3D de l’intérieur des échantillons, l’extraction de données morphologiques à l’aide de méthodes mathématiques et de calculs numériques.
CANDIDATURE
Conditions d’éligibilité au programme
Un appel à candidature international sera lancé en amont de chaque session de formation. Les candidatures se feront en ligne directement sur notre plateforme.
SELECTION
Les critères de sélection sont les suivants :
- Qualité du dossier
- Degré de motivation
- Pertinence du projet de recherche
FOCUS

L’ingénierie mathématique au service du developpement durable

La microtomographie couvre un très large spectre d’applications dans le domaine de la science des matériaux. Dans le cadre de la formation X-TechLab, nous nous intéresserons en particulier au potentiel unique de cette technique pour le développement d’un habitat durable, écologique et confortable. Le modèle actuel en Afrique s’appuie en effet presque exclusivement sur l’usage systématique du béton, étant loin d’offrir des performances optimales.

La conception et l’optimisation d’une nouvelle génération de matériaux à partir d’ingrédients locaux pour un habitat confortable et respectueux de l’environnement nécessite la maîtrise et la mise en œuvre d’outils théoriques et expérimentaux spécifiques. En plus des essais thermomécaniques classiques, notre approche consiste à coupler des données provenant de moyens d’investigation non destructifs (imagerie X, spectroscopie) à l’utilisation d’algorithmes mathématiques afin d’extraire les caractéristiques des matériaux telles que la morphologie et la réponse de chacun de leurs ingrédients aux sollicitations thermomécaniques imposées par l’environnement.

L’ensemble de ces outils et méthodologies innovants constituera un des acquis majeurs de la formation des participants souhaitant s’investir dans les applications d’ingénierie des matériaux.

ÉQUIPE

Experts Encadrants

Cristallographie et techniques de diffraction X

Claude LecomteProfesseur Émérite, Université Nancy-Lorraine, France

El Eulmi Bendeif Maitre de Conférences, Université Nancy Lorraine, France

Emmanuel WengerIngénieur Responsable Diffraction X, Université Nancy Lorraine, France

Florence PorcherIngénieure Chercheure, CEA, France

Pierre Fertey Ingénieur Chercheur, Synchrotron Soleil, France

Patrick Kenfack Enseignant Chercheur, Université de Dschang, Cameroun

Michele Zema Professeur, University of Pavia, Italy

Thierry d’Almeida Ingénieur Chercheur, CEA, France

Tomographie et Ingénierie Mathématique

François Hild Professeur, Ecole Normale Supérieure-Cachan, France

Dominique Jeulin Professeur Émérite, Mines Paris-Tech, France

Djimedo Kondo Professeur, Université Pierre et Marie Curie, France

Alain Fanget Ingénieur Chercheur, CEA, France

Benjamin Erzar Ingénieur Chercheur,  CEA, France

Jose-Manuel Merino Professeur, Universidad Autnoma de Madrid, Espagne