La formation X-TechLab comporte deux sessions annuelles. Chacune de ces deux sessions comporte deux axes de formation : « Cristallographie et techniques de diffraction X » et « Tomographie et Ingénierie Mathématique ».
SESSION I : 18 au 29 Mai 2020
SESSION II : Novembre 2020
18.05.2020 – 29.05.2020
18.05.2020 – 29.05.2020
X-TechLab formera chaque année cent (100) techniciens, ingénieurs et chercheurs à deux techniques expérimentales de caractérisation : la diffraction et la microtomographie X.
La microtomographie couvre un très large spectre d’applications dans le domaine de la science des matériaux. Dans le cadre de la formation X-TechLab, nous nous intéresserons en particulier au potentiel unique de cette technique pour le développement d’un habitat durable, écologique et confortable. Le modèle actuel en Afrique s’appuie en effet presque exclusivement sur l’usage systématique du béton, étant loin d’offrir des performances optimales.
La conception et l’optimisation d’une nouvelle génération de matériaux à partir d’ingrédients locaux pour un habitat confortable et respectueux de l’environnement nécessite la maîtrise et la mise en œuvre d’outils théoriques et expérimentaux spécifiques. En plus des essais thermomécaniques classiques, notre approche consiste à coupler des données provenant de moyens d’investigation non destructifs (imagerie X, spectroscopie) à l’utilisation d’algorithmes mathématiques afin d’extraire les caractéristiques des matériaux telles que la morphologie et la réponse de chacun de leurs ingrédients aux sollicitations thermomécaniques imposées par l’environnement.
L’ensemble de ces outils et méthodologies innovants constituera un des acquis majeurs de la formation des participants souhaitant s’investir dans les applications d’ingénierie des matériaux.
José Manuel MERINO ALVAREZ, Professeur, Université Autonome de Madrid, Espagne, josem.merino@uam.es
Eberhardt Josué FRIEDRICH KERNAHAN, PhD, Université Autonome de Madrid, Espagne, josue.friedrich@uam.es
Thomas BLANTON, PhD, Directeur Excécutif, International Centre for Diffraction Data, tblanton@icdd.com
Philip Oladijo, Professeur, Botswana International University of Science and Technology, Botswana, oladijop@biust.ac.bw
Michele ZEMA, PhD, Université de Pavia, Italie, IUCr Executive Outreach Officer, michele.zema@unipv.it
Suzanna WARD, Directrice de la Cambridge Structural Database, Cambridge Crystallographic Data Centre, ward@ccdc.cam.ac.uk
Thierry d’ALMEIDA, Directeur de Recherche, Commissariat à l’Energie Atomique et aux Energies Alternatives (CEA), France, Thierry.DALMEIDA@cea.fr
Etienne SAGBO, Maître de conférences, Université d’Abomey-Calavi, esagbo@yahoo.fr
Marielle AGBAHOUNGBATA, PhD, X-TechLab, Agence de Développement de Sèmè City, m.agbahoungbata@xtechlab.co
François Hild – Directeur de Recherche, CNRS, France,
francois.hild@ens-paris-saclay
Dominique JEULIN, Professeur Emérite, Mines-Paris Tech, France, dominique.jeulin@mines-paristech.fr
Alain FANGET, Ingénieur chercheur, Commissariat à l’Energie Atomique et aux Energies Alternatives (CEA), France, alain.fanget@wanadoo.fr
Thierry DUVAUT, Professeur, Université de Reims Champagne Ardenne, France, thierry.duvaut@univ-reims.fr
Thierry d’ALMEIDA, Directeur de Recherche, Commissariat à l’Energie Atomique et aux Energies Alternatives (CEA), France, Thierry.DALMEIDA@cea.fr